Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
microscope pour inspection des tranches — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
plokštelių apžiūros mikroskopas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
wafer inspection microscope — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
микроскоп для визуального контроля пластин — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
